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半導(dǎo)體集成電路CMOS電路檢測

健明迪檢測提供的半導(dǎo)體集成電路CMOS電路檢測,檢測項目 輸入正向閩值電壓VIT+,輸入負(fù)向闌值電壓VIT-,帶后電壓△VT,檢測標(biāo)準(zhǔn) 半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理SJ/T10741-200,具有CMA,CNAS認(rèn)證資質(zhì)。
半導(dǎo)體集成電路CMOS電路檢測
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檢測流程

1、寄樣

2、初檢樣品

3、報價

4、雙方確定,簽訂保密協(xié)議,開始實驗。

5、結(jié)束實驗

6、郵寄檢測報告

檢測標(biāo)準(zhǔn)

半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 SJ/T 10741-20005.4

半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 SJ/T 10741-2000 5.5

半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 SJ/T 10741-2000 5.6

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半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 SJ/T 10741-20005.14

檢測項目

輸入正向閩值電壓VIT+,輸入負(fù)向闌值電壓VIT-,帶后電壓△VT,輸出高電平電壓VOH,輸出低電平電壓VOL,輸入高電平電流IIH,輸入低電平電流IL,輸出高電平電流IOH,輸出低電平電流IOL,輸出高阻態(tài)時高電平電流IOZH,輸出高阻態(tài)時低電平電流IOZL

檢測周期:7-15個工作日,試驗可加急

檢測樣品:半導(dǎo)體集成電路CMOS電路

哪里可以做半導(dǎo)體集成電路CMOS電路檢測?試驗項目:輸入正向閩值電壓VIT+,輸入負(fù)向闌值電壓VIT-,帶后電壓△VT,輸出高電平電壓VOH,輸出低電平電壓VOL,輸入高電平電流IIH,輸入低電平電流IL,輸出高電平電流IOH,輸出低電平電流IOL,輸出高阻態(tài)時高電平電流IOZH,輸出高阻態(tài)時低電平電流IOZL
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